Osservando il wafer di silicio sistema PECVD per la deposizione di strati di passivazione nitruro di silicio su wafer plasma a caricamento aperto e Clea utensile per deposizione

Osservando il wafer di silicio sistema PECVD per la deposizione di strati di passivazione nitruro di silicio su wafer plasma a caricamento aperto e Clea utensile per deposizione Foto Stock
Anteprima

Detagli dell'immagine

Collaboratore:

Javier LARREA

ID dell’immagine:

2XD1P5J

Dimensioni dei file:

58,6 MB (1,9 MB Download compresso)

Liberatorie:

Modello - no | Proprietà - sìMi occorre una liberatoria?

Dimensioni:

5543 x 3695 px | 46,9 x 31,3 cm | 18,5 x 12,3 inches | 300dpi

Altre informazioni: