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Spie in fase di test presso il padiglione che copre l'entrata principale per l'Expo di Shanghai.15-ott-2009

RMID:BFC45G

Detagli dell'immagine

Collaboratore:

Lou Linwei / Alamy Foto Stock

ID dell’immagine:

BFC45G

Dimensioni dei file:

50 MB (3,5 MB Download compresso)

Liberatorie:

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Dimensioni:

5125 x 3410 px | 43,4 x 28,9 cm | 17,1 x 11,4 inches | 300dpi

Data acquisizione:

15 ottobre 2009

Ubicazione:

Shanghai China

Altre informazioni:

RMBFXX12–Spie in fase di test presso il padiglione che copre l'entrata principale per l'Expo di Shanghai.15-ott-2009

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