Primo piano dell'esame di un campione di transistor a microchip con Stazione di sonda sotto il microscopio in laboratorio.A semiconduttore su a. wafer di silicio

RFID:2B39B0W

Anteprima

Detagli dell'immagine

Collaboratore:

Anatoly Morozov / Alamy Foto Stock

ID dell’immagine:

2B39B0W

Dimensioni dei file:

48,6 MB (1.002,9 KB Download compresso)

Liberatorie:

Modello - no | Proprietà - noMi occorre una liberatoria?

Dimensioni:

5049 x 3366 px | 42,7 x 28,5 cm | 16,8 x 11,2 inches | 300dpi

Data acquisizione:

12 dicembre 2019

Altre informazioni:

Parole chiave associate all'immagine

Immagini Simili

RF2RH3B61–Primo piano dell'esame del campione di test del transistor microchip al microscopio in laboratorio. Apparecchiatura per il test dei microchip. Automazione di produ

RF2X0M92K–Scienziato che esamina un microchip.

RF2F902GT–Primo piano dell'esame del campione di test del transistor microchip al microscopio in laboratorio. Apparecchiatura per il test dei microchip. Automazione di produ

RF2B39B0D–Primo piano dell'esame di un campione di transistor a microchip con Stazione di sonda sotto il microscopio in laboratorio.A semiconduttore su a. wafer di silicio

RF2X0M923–Scienziato che esamina un biochip.

RF2F9GPKG–Primo piano dell'esame del campione di test del transistor microchip al microscopio in laboratorio. Apparecchiatura per il test dei microchip. Automazione di produ

RF2B39B0M–Primo piano dell'esame di un campione di transistor a microchip con Stazione di sonda sotto il microscopio in laboratorio.A semiconduttore su a. wafer di silicio

RF2PPD85W–Primo piano dell'esame del campione di test del transistor microchip al microscopio in laboratorio. Apparecchiatura per il test dei microchip. Automazione di produ

RF2B39BCJ–Primo piano dell'esame di un campione di transistor a microchip con Stazione di sonda sotto il microscopio in laboratorio.A semiconduttore su a. wafer di silicio

RF2R9AECY–Primo piano dell'esame del campione di test del transistor microchip al microscopio in laboratorio. Apparecchiatura per il test dei microchip. Automazione di produ

RF2B39AK2–Primo piano dell'esame di un campione di transistor a microchip con Stazione di sonda sotto il microscopio in laboratorio.A semiconduttore su a. wafer di silicio

RF2RFYKG6–Primo piano dell'esame del campione di test del transistor microchip al microscopio in laboratorio. Apparecchiatura per il test dei microchip. Automazione di produ

RF2PJHBE8–Primo piano dell'esame del campione di test del transistor microchip al microscopio in laboratorio. Apparecchiatura per il test dei microchip. Automazione di produ

Primo piano dell'esame di un campione di transistor a microchip con Stazione di sonda sotto il microscopio in laboratorio.A semiconduttore su a. wafer di silicio

Detagli dell'immagine

Parole chiave associate all'immagine

Ottieni fantastiche funzionalità con il tuo account gratuito

Ispirati per il tuo prossimo progetto!