Wafer di silicio semiconduttore sottoposto a test sulla stazione di sonda. Messa a fuoco selettiva.

Wafer di silicio semiconduttore sottoposto a test sulla stazione di sonda. Messa a fuoco selettiva. Foto Stock
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genkur / Alamy Foto Stock

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2FMRPH5

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Modello - no | Proprietà - noMi occorre una liberatoria?

Dimensioni:

5313 x 3542 px | 45 x 30 cm | 17,7 x 11,8 inches | 300dpi

Data acquisizione:

14 aprile 2021